EDXRF Στοιχειακός αναλυτής NEX QC+

O στοιχειακός αναλυτής φθορισμού ακτινών Χ (EDXRF) ΝΕΧ QC+ είναι ιδανικός για την στοιχειακή ανάλυση πλήθους δειγμάτων και είναι σχεδιασμένος για βιομηχανική και ερευνητική χρήση.

Είναι ειδικά σχεδιασμένος για εφαρμογές ποιοτικού ελέγχου.  Διαθέτει λογισμικό εύκολο στην χρήση μέσα από την touch screen και τα αποτελέσματα εκτυπώνονται μέσω του ενσωματωμένου εκτυπωτή.

Διαθέτει λυχνία 50 KV και ανιχνευτή SDD (Si Drift Detector) προσδίδοντας εξαιρετική επαναληψιμότητα  και μεγάλη διακριτική ικανότητα. Η διέγερση με λυχνία 50 KV καθώς και η χρήση πολλαπλών φίλτρων λυχνίας κάνουν το NEX QC+ ιδανικό για μεγάλο εύρος εφαρμογών με πολύ χαμηλά όρια ανίχνευσης. Πρόσθετα χαρακτηριστικά είναι η χρήση fundamental parameters,  ο αυτόματος δειγματολήπτη,  και He Purge για την ανάλυση ελαφριών στοιχείων.

Μερικά από τα τεχνικά χαρακτηριστικά είναι τα εξής :

• Ανάλυση με μη καταστροφικό έλεγχο όλων των στοιχείων από το Na έως το U.
• Δείγματα στερεών, υγρών, κραμάτων, σκονών και φιλμ.
• Τouch screen για την επικοινωνία του χρήστη με τον αναλυτή.
• Ενσωματωμένος θερμικός εκτυπωτής.
• Χαμηλό κόστος αγοράς και μηδενικό κόστος λειτουργίας.
• Προαιρετική χρήση fundamental parameters.